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產(chǎn)品介紹
霍爾效應測試儀 HET 是依據范德堡法測量材料的電運輸性能參數：載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等，薄膜或薄層材料均可測量，可應用于所有半導體材料，包括 Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可測量）, 廣泛應用于國內高校、研究所、半導體、金屬、高熱導有機新材料等行業(yè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
采用高精密度恒流源和電壓表，確保儀器測試的良好準確度和高穩定性，性能優(yōu)越；
霍爾效應測試儀自動(dòng)控制磁場(chǎng)方向的改變，更加便捷準確；
樣品裝夾快速方便，且使用能夠解決歐姆接觸的樣品芯片；
產(chǎn)品采用一體化、精密化設計，融入人性化的設計理念，不僅測量精確而且操作方便；
用戶(hù)界面操作簡(jiǎn)單，功能齊全的軟件平臺帶給客戶(hù)友好的操作體驗，使測試過(guò)程更加方便快捷；
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應用功能
載流子類(lèi)型鑒定：通過(guò)測量霍爾系數，可以確定電流攜帶者的類(lèi)型，是正電荷的空穴還是負電荷的電子，從而獲得半導體或導體的電子結構和能帶特性；
載流子濃度測量：霍爾系數與載流子濃度之間存在關(guān)系，因此通過(guò)測量霍爾系數，可以估計材料中載流子的濃度；
遷移率評估：霍爾系數還可以用來(lái)計算載流子的遷移率，即電荷載流子在材料中移動(dòng)的能力，從而對材料的電導率和電子遷移性等方面的深入研究；
材料電性能評估：通過(guò)了解材料的電子結構、載流子類(lèi)型、濃度和遷移率等信息，可以更全面地評估材料的電性能，為電子器件和電路設計提供重要參考；
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